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エネルギー分散X線蛍光分光器EDX 8800（真空タイプ）
簡単な紹介：エネルギー分散X線蛍光分光器EDX 8800（真空型）元素分析範囲はナトリウム（Na）からウラン（U）まで、国際先進的な米国原装輸入SDDシリコンドリフト検出器を採用し、解像度がより高く、軽量元素の検出限界を大幅に高め、標準検出限界はSI-PIN検出器より100倍エネルギー分散X線蛍光分
製品の詳細
詳細：
エネルギー分散X線蛍光分光器EDX 8800（真空タイプ）
製品の特徴
1.国際先進的な米国製輸入SDD（SILICON DRIFT DETECTOR）シリコンドリフト検出器を採用し、解像度がより高く、軽量元素の検出限界を大幅に高め、標準検出限界はSI-PIN検出器より100倍向上した、測定範囲はより広く、基本的に各種の通常材料元素の分析要求をカバーしている、
2.米国原装輸入データ統合処理システムを配置し、データ収集速度が速く、測定がより安定で、再現性と長期安定性がより良い、
3.新開発の専用測定ソフトウェアを配置し、多種の図形計算方法を集積し、測定データはより正確で、より安定である、
4.ソフトウェア監視機器の主要コア部品の運行状態、使用がより迅速である、
5.専門に開発した真空システムを配置し、真空性能がより良く、テスト効果がより良い、
技術パラメータ：
1.元素分析範囲：ナトリウム（Na）からウラン（U）まで
2.元素含有量の分析範囲は1 ppmから99.99%である
3.低検出限界：1 ppm
4.測定時間：60～200秒（調整可能）
5.機器動作電源：AC 220±5 V
6.エネルギー分解能129±5 eV
7.X線管大出力電流：1 mA
8.限界圧力：6.7×10-2Pa
9.試料キャビティサイズ：610*320*100（mm）（真空引きなし）/Φ100*h 75（mm）（真空試料キャビティ）
10.多重測定繰り返し性（標準サンプルを基準とする）：±0.05%（高含有量）/±0.002%（微量）
11.長期動作安定性（標準サンプル基準）±：0.06%（高含有量）/±0.0025%（微量）
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