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製品の詳細
厚膜回路/厚膜抵抗測定
厚膜抵抗
分光共焦点変位センサは厚膜抵抗を測定する際、抵抗は湿潤状態で測定できる。セラミックスと銀ペーストは同時に安定して測定することができる。
THINKFOCUSは厚膜回路の検出に対して非接触測定装置を発売した。スペクトル共焦点変位センサは高精度輸入テーブルを搭載している。
超高解像度、最大ナノスケール
ワンタッチ自動測定、測定厚さ、高差を自動認識
ガラス、セラミックス、ハイライト金属の表面は安定して測定できる
非接触式測定、乾湿状態どちらでも可
異なる寸法検出を満たすカスタムプラットフォーム
厚さ、段差、幅、粗さ、うねり、輪郭度、平面度を測定可能
オンライン照会
